Erstklassige Daten zur Partikelgrößenverteilung von 10 nm – 3.500 μm durch Laserbeugung mit nur 2 Mausklicks

Der neue LS 13 320 XR von Beckman Coulter hebt die Laserbeugungspartikelgrößenanalyse auf ein neues Niveau. Die verbesserte PIDS-Technologie und der erweiterte Messbereich sorgen für eine höhere Auflösung und genauere, reproduzierbare Ergebnisse. Sie können ein breiteres Spektrum an Partikeln messen und kleinere Unterschiede in den Proben schneller und zuverlässiger erkennen. Und die neue Software mit intuitiver Oberfläche liefert Ihnen mit wenigen Klicks die Daten, die Sie benötigen.

Vorteile

  • Erweiterter Messbereich: 10 nm – 3.500 μm
  • Echte Partikelerkennung bis hinunter zu 10 nm
  • Präzisere Rohdatenerfassung und erhöhte Detektorempfindlichkeit für sub-μm-Partikelgrößenanalyse
  • 132 Detektoren für höhere Auflösung und genauere Ergebnisse
  • Optimierte und intuitive Software erfordert nur zwei Klicks vom Start der Messung bis zum Ergebnis
  • Automatische Richtig-/Falsch-Visualisierung zur sofortigen Qualitätskontrolle
  • Unterstützt GMP mit spezifischen Tools zur Installationsqualifizierung (IQ) und Betriebsqualifizierung (OQ)
  • 21-CFR-Part-11-konforme Software ermöglicht Arbeiten unter zertifizierten Bedingungen
Details sind wichtig. Geringfügige Änderungen in Ihrem Probenmaterial können zu großen Unterschieden im fertigen Produkt führen. Deshalb verwendet der Laserbeugungsanalysator LS 13 320 XR 132 Detektoren, um eine höhere Auflösung für genauere Ergebnisse und einen erweiterten Messbereich von 10 nm – 3.500 μm zu erreichen.
beckmann coulter life sciences

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