Erstklassige Daten zur Partikelgrößenverteilung von 10 nm – 3.500 μm durch Laserbeugung mit nur 2 Mausklicks
Der neue Partikelanalysator LS 13 320 XR von Beckman Coulter hebt die Partikelanalyse mittels Laserbeugung auf ein neues Niveau. Die verbesserte PIDS-Technologie und der erweiterte Messbereich sorgen für eine höhere Auflösung und genauere, reproduzierbare Ergebnisse bei der Bestimmung der Partikelgröße und liefert erstklassige Daten zur Partikelgrößenverteilung. Sie können ein breiteres Spektrum an Partikeln messen und kleinere Unterschiede in den Proben schneller und zuverlässiger erkennen. Und dank neuer Software mit intuitiver Oberfläche liefert Ihnen dieses Partikelmessgerät mit wenigen Klicks die Daten, die Sie benötigen.
Ihre Vorteile bei der Bestimmung der Partikelgröße
- Erweiterter Messbereich: Partikelgrößen von 10 nm – 3.500 μm
- Echte Erkennung und Partikelgrößenanalyse bis hinunter zu 10 nm
- Präzisere Rohdatenerfassung und erhöhte Detektorempfindlichkeit für sub-μm-Partikelgrößenanalyse
- 132 Detektoren für höhere Auflösung und genauere Ergebnisse
- Optimierte und intuitive Software erfordert nur zwei Klicks vom Start der Messung bis zum Ergebnis
- Partikelmessgerät mit automatischer Richtig-/Falsch-Visualisierung zur sofortigen Qualitätskontrolle
- Unterstützt GMP mit spezifischen Tools zur Installationsqualifizierung (IQ) und Betriebsqualifizierung (OQ)
- 21-CFR-Part-11-konforme Software ermöglicht Partikelanalyse unter zertifizierten Bedingungen
Details sind auch bei der Partikelanalyse wichtig. Geringfügige Änderungen in Ihrem Probenmaterial können zu großen Unterschieden im fertigen Produkt führen. Deshalb verwendet das Partikelmessgerät LS 13 320 XR 132 Detektoren, um eine höhere Auflösung für genauere Ergebnisse und einen erweiterten Messbereich für Partikelgrößen von 10 nm – 3.500 μm zu erreichen. Damit Sie sich auf die Ergebnisse Ihrer Partikelgrößenanalyse wirklich verlassen können.